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日立台式XRF镀层测厚仪X-Strata920

X-Strata920 是一款高精度台式 XRF 分析仪,具有多种选择,可容纳多种类型的样品。该分析仪非常适合测量各种基材上的镀层,适合用于确定产品质量的电子产品、连接器、装饰品和珠宝分析。
名称 镀层测厚仪
规格
品牌 HITACHI日立
型号 X-Strata920
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X-Strata920_00.jpgX-Strata920_01.jpg

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型号: X-Strata920
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