3506-10容量测试仪

对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试

● 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量
● 提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度
● 1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量
● 根据BIN的测定区分容量

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  4端子探头L2000

  DC~8MHz，1m长

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  4端子开尔文夹9140-10

  DC~200kH，50 Ω，1 m长

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  镊形探头L2001

  线长73cm，DC～8MHz，50Ω，前端电极间隔：0.3～6mm(IM9901:JIS尺

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  测试治具9261-10

  线长1m，DC~5MHz，特性阻抗50Ω，可测端口直径：0.3~1.5mm

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  测试治具9262

  DC～8 MHz, 直接连接型

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  SMD测试治具9263

  直接连接型, DC～5 MHz 测试尺寸: 1mm～10.0mm

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  SMD测试治具9677

  用于侧面有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：3.5mm±0.5mm

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  SMD测试治具9699

  用于底部有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：宽1.0~4.0mm，高1.5