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3511-50 LCR测试仪

C、(tan δ), Q测试,低电阻测量 测试源频率:1kHz,1MHz 测量时间:1.5ms(1MHz) RS-232C,GP-IB
名称 LCR测试仪
规格
品牌 HIOKI日置
型号 3511-50
重量 4.8kg
尺寸 260W × 100H × 298Dmm
产品详情
产品选件
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精巧,5ms快速测量LCR

● 高速测量:5ms(1kHz)或13ms(120Hz)
● 高精度: ± 0.08%
● 内置比较器



11.jpg

  • 4端子探头L2000
    4端子探头L2000

    DC~8MHz,1m长

  • 4端子开尔文夹9140-10
    4端子开尔文夹9140-10

    DC~200kH,50 Ω,1 m长

  • 镊形探头L2001
    镊形探头L2001

    线长73cm,DC~8MHz,50Ω,前端电极间隔:0.3~6mm(IM9901:JIS尺

  • 测试治具9261-10
    测试治具9261-10

    线长1m,DC~5MHz,特性阻抗50Ω,可测端口直径:0.3~1.5mm

  • 测试治具9262
    测试治具9262

    DC~8 MHz, 直接连接型

  • SMD测试治具9263
    SMD测试治具9263

    直接连接型, DC~5 MHz 测试尺寸: 1mm~10.0mm

  • SMD测试治具9677
    SMD测试治具9677

    用于侧面有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:3.5mm±0.5mm

  • SMD测试治具9699
    SMD测试治具9699

    用于底部有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:宽1.0~4.0mm,高1.5



>>C测试仪3506-10    下载


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