什么是EEM View
测定样品的光谱数据（反射光谱、荧光光谱）
在不同光源条件（白光和单色光）下拍摄样品
（区域:Φ20 mm、波长范围:380~700 nm）
采用AI光谱图像处理算法＊1，能够分别显示样品荧光图像和反射图像
根据图像可获得不同区域的光谱信息＊1（荧光光谱、反射光谱）
*1计算系统是国立信息学研究所的IMARI SATO教授和郑银强副教授共同研究的成果
EEM View Analysis 界面（样品：LED电路板）
荧光分布成像系统概要
积分球漫反射使光源均匀化
利用积分球收集的光均匀照射样品
采用荧光检测器和CMOS相机双检测模式
新型荧光分布成像系统可安装到F-7100荧光分光光度计的样品仓内。入射光经过积分球的漫反射后均匀照射到样品，利用F-7100标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱，结合积分球下方的CMOS相机可获得样品图像，并利用独特的AI光谱图像处理算法，可以同时得到反射和荧光图像。
应用数据
【应用实例】微结构材料的荧光特性和结构确认
为了提高可视性，我们测量了具有精细结构的荧光反射片。
对样品照射360 nm～700 nm范围内的单色光以及白光。此时，可获得不同光源条件下的图像，同时通过荧光检测器可获得荧光光谱。测定完成后，可以查看样品的三维荧光光谱（激发波长、发射波长、荧光强度）。在专用分析软件中，可对图像进行放大，从而显示不同区域的荧光 · 反射光谱。因此能够确认光学性能分布不均匀的样品的反射和荧光光谱。
对拍摄到的图像进行反射光成分图像与荧光成分图像分离
利用AI光谱图像处理算法，将拍摄的图像分离为反射光成分和荧光成分图像。结果，反射光成分图像显示为橙色，荧光成分图像显示为绿色。二者分别与反射光谱与荧光光谱的单色光一致。由此可知，此样品是橙色反射光和绿色荧光的混合，所以在白光下呈黄色。此外，通过反射图像和荧光图像可看出样品不同区域的光学特性（图像图案）差异。放大图像后可以看到，反射板的微细结构存在规律的间隔，其间隔宽度是200 μm。
| 项目 | 内容 |
|---|
| 三维荧光光谱的测定 |
| 单色光图像 |
| 白色光图像 |
| 预览图像 |
| 显示缩略图 |
| 显示三维荧光光谱（等高线，渐变图） |
| 显示激发/发射光谱 |
| 显示放大图像 |
| 图像分区（1×1、2×2、3×3、4×4、5×5） |
| 计算、显示不同区域光谱（荧光、反射）*1 |
| 显示分离图像（荧光、反射）*1 |
*1计算系统是国立信息学研究所的IMARI SATO教授和郑银强副教授共同研究的成果
| 项目 | 内容 |
|---|
360 nm ～700 nm |
| 彩色（RGB）CMOS传感器 |
USB3.0 |
| 1920 × 1200（H×V） |
380 nm ～700 nm |
*此配件的主要规格以荧光分光光度计主机为设计依据。
| 名称 | P/N（序列号） |
|---|
5J1-0042 |
5J0-0570 |
650-1246 |
5J0-0136 |
