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● 荧光分光光度计 ● 紫外可见分光光度计 ● 原子吸收分光光度计 ● 扫描电镜 ● 电子显微镜 ● 原子力显微镜 ● 离子研磨仪 ● 高效液相色谱仪 ● 氨基酸分析仪 ● X射线荧光光谱分析仪 ● 火花直读光谱仪 ● 手持式荧光光谱仪 ● X射线异物分析仪 ● RoHS2.0解决方案 ● 热分析仪 ● XRF镀层测厚仪 ● 全自动生化分析仪 ● 平沼.电位滴定仪 ● 卡尔费休水分滴定仪 |
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| 日立F-7100荧光分光光度计 |
| 高速扫描，速度可达 60,000 nm/min |
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| 日立F-2700荧光分光光度计 |
| 低浓度和少量样品均可有效分析 |
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| 日立荧光分光光度计F-7000 |
| 同类产品中扫描速度快（60,000 nm/min） |
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| 日立UH4150紫外/可见/近红外分光光度计 |
| UH4150 |
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| 日立双光束紫外分光光度计 UH5200/5210 |
| UH5200/5210 |
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| 日立UH5700紫外/可见/近红外分光光度计 |
| UH5700 |
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| 日立UH5300双光束分光光度计 |
| UH5300 |
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| 日立U-5100比例双光束紫外可见分光光度计 |
| U-5100 |
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| 日立ZA4000系列原子吸收分光光度计 |
| ZA4000系列 |
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| 日立ZA3700原子吸收分光光度计 |
| ZA3700 |
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| 日立ZA3300原子吸收分光光度计 |
| ZA3300 |
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| 日立ZA3000原子吸收分光光度计 |
| ZA3000 |
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| 日立台式显微镜-TM4000II/TM4000PlusII |
| TM4000II |
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| 日立扫描电子显微镜-SU3800/SU3900 |
| SU3800/SU3900 |
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| 日立扫描电子显微镜 FlexSEM 1000 II |
| SEM1000 |
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| 日立热场式场发射扫描电镜 SU5000 |
| SU5000 |
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| 日立超高分辨肖特基场发射扫描电镜 SU7000 |
| SU7000 |
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| 日立超高分辨场发射扫描电子显微镜 SU8600系列 |
| SU8600 |
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| 通用型原子力显微镜-AFM5100N |
| AFM5100N |
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| 日立 全自动型原子力显微镜-AFM5500M |
| AFM5500M |
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| 日立全自动扫描探针显微镜 AFM5500MⅡ |
| AFM5500MⅡ |
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| 日立环境型原子力显微镜 AFM5300E |
| AFM5300E |
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| 日立多功能扫描探针显微镜AFM100 Plus / AFM100 系统 |
| AFM100 Plus |
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| 日立Primaide高效液相色谱仪 |
| Primaide |
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| 日立Chromaster高效液相色谱仪 |
| Chromaster |
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| HITACHI日立高效液相色谱仪 Primaide PLUS |
| Primaide PLUS |
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| 日立LA8080超高速全自动氨基酸分析仪 |
| LA8080 |
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| 日立台式XRF光谱仪（RoHS） | EA1000AIII |
| EA1000AIII |
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| 日立台式XRF光谱仪X-Supreme8000 |
| X-Supreme8000 |
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| 日立台式XRF光谱仪LAB-X5000 |
| LAB-X5000 |
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| 日立X射线荧光分析仪-EA1000AIII |
| EA1000AIII |
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| 日立HM1000A热脱附质谱仪(邻苯二甲酸酯筛选装置) |
| HM1000A |
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| 新款直读光谱仪OE720&OE750 |
| OE720&OE750 |
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| 日立FOUNDRY-MASTER Smart全谱火花台式直读光谱仪 |
| FOUNDRY-MASTER Smart |
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| 日立 移动式直读光谱仪PMI-MASTER Smart |
| PMI-MASTER Smart |
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| 日立 移动式直读光谱仪PMI-MASTER Pro2 |
| PMI-MASTER Pro2 |
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| 日立 新款直读光谱仪FM EXPERT |
| FM EXPERT |
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| 日立EA8000A X射线分析仪 |
| EA8000A |
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| 日立Primaide高效液相色谱仪 |
| Primaide |
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| 日立台式XRF光谱仪（RoHS） | EA1000AIII |
| EA1000AIII |
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| 日立手持式 XRF 光谱仪 - X-MET8000 系列 |
| X-MET8000 |
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| 日立HM1000A热脱附质谱仪(邻苯二甲酸酯筛选装置) |
| HM1000A |
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| 日立同步热重分析仪 NEXTA STA 系列: STA200 & STA300 |
| STA200 & STA300 |
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| 日立机械热分析仪 TMA7100 & TMA7300 |
| TMA7100&TMA7300 |
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| 日立差示扫描量热仪NEXTA DSC600 & DSC200 |
| DSC600 & DSC200 |
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| 日立台式XRF镀层测厚仪X-Strata920 |
| X-Strata920 |
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| 日立台式XRF镀层测厚仪FT230 |
| FT230 |
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| 日立X射线荧光镀层厚度测量仪-FT110A |
| FT110A |
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| 日立XRF镀层测厚仪 FT160 |
| FT160 |
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| HITACHI日立全自动生化分析仪 LABOSPECT 008 α |
| LABOSPECT 008 α |
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| HITACHI日立全自动生化分析仪 LABOSPECT 008 AS |
| LABOSPECT 008 AS |
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| HITACHI日立全自动生化分析仪 LABOSPECT 006 |
| LABOSPECT 006 |
为增强SEM与AFM等分析设备的联用功能，满足从研发到质量控制的广泛需求，日立高新技术株式会社（以下简称“日立高新技术”）宣布推出新的扫描探针显微镜系统“AFM5500MII”（以下简称“本产品”），该系统提高了使用多种分析设备观察同一样品时的观察精度和可操作性。日立AFM5500MII扫描探针显微镜近年来，半导体和金属材料领域在功能性，小型化、结构复杂化和多层化方面一直在进步。因此，越来越...
2024-08-07
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